協(xié)會動態(tài)
“BCEIA 2021-高校分析測試論壇暨第七屆表面分析技術(shù)應(yīng)用論壇”在北京順利召開
導(dǎo)讀： 9月28日，由國家電子能譜中心、中國分析測試協(xié)會高校分析測試分會等聯(lián)合主辦的“BCEIA 2021-高校分析測試論壇暨第七屆表面分析技術(shù)應(yīng)用論壇”在北京順利召開。
儀器信息網(wǎng)訊 2021年9月28日，由國家電子能譜中心、中國分析測試協(xié)會高校分析測試分會、北京理化分析測試學(xué)會表面分析專業(yè)委員會、廣東省分析測試協(xié)會表面分析專業(yè)委員會和全國微束分析標準化技術(shù)委員會表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會，聯(lián)合主辦“BCEIA 2021-高校分析測試論壇暨第七屆表面分析技術(shù)應(yīng)用論壇”，在北京·中國國際展覽中心-天竺新館隆重開幕。受疫情影響，本屆會議采用線上線下聯(lián)合形式。
從2019年開始，北京理化分析測試學(xué)會表面分析專業(yè)委員會和廣東省分析測試協(xié)會表面分析專業(yè)委員會，借助BCEIA平臺，攜手舉辦了“北京?廣東 表面分析專業(yè)委員會年會”，共話表面分析科學(xué)及其應(yīng)用技術(shù)的新發(fā)展。今天，我們再一次相聚，共話表面分析技術(shù)研究與發(fā)展。
國家電子能譜中心副主任、北京理化分析測試學(xué)會表面分析專業(yè)委員會常務(wù)副理事長姚文清主持開幕式。北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會理事長張經(jīng)華研究員，廣東省分析測試協(xié)會表面分析專業(yè)委員會主任、中山大學(xué)陳建研究員以及全國微束分析標準化技術(shù)委員會表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會秘書長、中科院化學(xué)所劉芬副研究員為大會致辭。
國家電子能譜中心副主任、北京理化分析測試學(xué)會
表面分析專業(yè)委員會常務(wù)副理事長 姚文清 主持開幕式
北京理化分析測試技術(shù)學(xué)會理事長張經(jīng)華研究員致辭
廣東省分析測試協(xié)會表面分析專業(yè)委員會主任、中山大學(xué)陳建研究員
全國微束分析標準化技術(shù)委員會表面化學(xué)分析分技術(shù)委員會秘書長、
中科院化學(xué)所劉芬副研究員致辭
大會全天共邀請了來自全國各高校從事表面分析科研工作的7位專家學(xué)者進行主題報告，他們分別是清華大學(xué)焦麗穎教授（杰青）、南方科技大學(xué)丁孫安教授、北京大學(xué)郭少軍教授（杰青）、重慶大學(xué)周小元教授（杰青）、天津大學(xué)-新加坡國立大學(xué)（TJU-NUS）福州聯(lián)合學(xué)院林挺斌教授、天津理工大學(xué)劉紅軍教授、華南師范大學(xué)田國副研究員。以及大會合作伙伴賽默飛、高德英特及島津也給我們帶來了相關(guān)表面分析的技術(shù)報告。
清華大學(xué)焦麗穎教授作《二維晶體的表面生長與表征研究》報告
南方科技大學(xué)丁孫安教授作《基于光電子飛行
時間的智能化材料光電參數(shù)綜合測試系統(tǒng)研發(fā)》報告
北京大學(xué)郭少軍教授作《材料表面應(yīng)變調(diào)控能源小分子電催化轉(zhuǎn)換》報告
賽默飛公司業(yè)務(wù)拓展經(jīng)理張治忠作《XPS表面分析
技術(shù)在能源電池和先進器件材料表征中的應(yīng)用》報告
重慶大學(xué)周小元教授作《氧配位過渡族金屬單原子局域構(gòu)型的新型光催化體系》報告
天津大學(xué)-福州國際學(xué)院林挺斌教授作
《掃描隧道顯微鏡在表面化學(xué)研究的應(yīng)用》報告（錄播）
高德英特公司鞠煥鑫博士作《表面分析技術(shù)在能源材料研究中的應(yīng)用》報告
天津理工大學(xué)劉紅軍教授作《二維TMDs薄膜中缺陷及界面結(jié)構(gòu)的STM研究》報告
華南師范大學(xué)田國副研究員作《基于掃描
探針系統(tǒng)的微觀磁、電性能的探測與調(diào)控研究》報告
島津公司龔沿東研究員作《XPS分析 - 從超薄到超厚》報告
在“專家面對面”環(huán)節(jié)，由北京大學(xué)謝景林教授、北京師范大學(xué)吳正龍教授、中國科學(xué)院化學(xué)研究所劉芬副研究員、中山大學(xué)陳建研究員組成的專家團隊，圍繞“XPS數(shù)據(jù)荷電校正問題探討”的主題，與現(xiàn)場的來賓共同討論，學(xué)術(shù)氛圍非常濃烈。
專家面對面
“專家面對面”環(huán)節(jié)，由北京大學(xué)謝景林教授、北京師范大學(xué)吳正龍教授、中國科學(xué)院化學(xué)研究所劉芬副研究員、中山大學(xué)陳建研究員組成的專家團隊，圍繞“XPS數(shù)據(jù)荷電校正問題探討”的主題，與現(xiàn)場的來賓共同討論，學(xué)術(shù)氛圍非常濃烈。
本次表面會議線上線下參會人員5000余人，現(xiàn)場及線上的觀眾對本次會議報告以及相關(guān)討論表示干貨滿滿，表示希望今后能有更多的相關(guān)會議深入學(xué)習(xí)。
儀器信息網(wǎng)供稿
